探测器光谱/辐射响应性能测试装置

1)主要技术参数:

²中心波长精度:优于±1nm

²峰值波长精度:优于±1nm

²光谱带宽测量精度:优于±0.5nm

²相对光谱响应度测量精度:优于±2%

²非均匀性标定误差:优于±1%

²像素不均匀性测量精度:1%

2)应用领域:

²线/面阵/TDI CCD以及CMOS等阵列光电探测器的光谱/辐射响应性能测试和标定。

3)成功应用案例:

²中科院新疆某研究所

²航天某院某研究

²西北某大学

4)产品实物图片:

航天某院某所敏感器大面阵CCD关键参数测量系统实物图片

中科院新疆某研究所CCD光电参数测试设备实物图片

红外探测器光谱响应测试系统原理/结构图

红外探测器光谱响应测试系统实物图片